NuMicro™NUC100/NUC120 包含 一個12位8通道逐次逼近式 類比– 數位轉換器(SAR A/Dconverter).
A/D 轉換器支援
三種操作模式:
1 單一（single）:
在單觸發模式下, A/D 轉換僅僅在指定的單一通道中執行一次，運作流程如下:
1. 當ADCR 的ADST被軟體或者外部觸發輸入置位時，A/D轉換開啟
2. 當A/D 轉換完成, 轉換值將存儲在與通道相對應的A/D資料寄存器中.
3. A/D 轉換完成, ADSR 的ADF 位置位. 若此時ADIE 位置位, 將產生ADC插斷要求.
4. A/D轉換期間，ADST 位維持為1. A/D 轉換結束, ADST 位自動清0 ，A/D 轉換器進入idle模式.ADST位被清為 將ADST位置1，否則A/D 轉換器可能無法正常運作.
2 單週期掃描(single-cycle scan) :
在單週期掃描模式下, ADC會對所有指定的通道進行一次採樣與轉換,且從編號最小的通道開始.運作
流程如下:
1. 當ADCR的ADST被軟體或者外部觸發輸入置位時，A/D轉換從最小編號的通道開始.
2. 每路A/D 轉換完成後, A/D 轉換數值將裝載到相應資料寄存器中.
3. 當被選擇的通道數 都轉換完成後，ADF 位 （ADSR 寄存器）置1. 若此時ADIE 置1, 當A/D 轉換完成後，將產生ADC插斷要求.
4. AD轉換結束後，ADST位自動清零，A/D轉換器進入idle狀態，轉換值將存儲在與通道相對應的A/D資料寄存器中.若在轉換過程中，ADST位元被軟體清為零，則無法保證儲存在A/D數據寄存器中的資料之正確性.
ADST位被清為0後，至少要等一個ADC時鐘，才能再將ADST位置1，否則A/D 轉換器可能 .
無法正常運作
單週期掃描模式下使能通道時序圖
3 連續掃描模式(continuous scan).
模式, A/D轉換器會重複對所有指定通道執行轉換. 操作如下:
器中.
換完成後. 使能的最小編號通道將開始新的轉換.
在連續掃描
1. 當ADCR的ADST被軟體或者外部觸發輸入置位時，A/D轉換從最小編號的通道開始.
2. 每路使能的A/D 轉換完成後, A/D 轉換數值將裝載到相應資料寄存
3. 當所有被使能的通道依序完成一次A/D轉換時，ADF 位 （ADSR[0]）置位. 若此時ADIE
置位, 將產生ADC_INT插斷要求.當A/D 轉
4. 只要ADST保持為1，就重複步驟2到步驟3. 當清ADST 為0, ADC 控制器將完成當前轉換,
但無法保證最小編號使能通道的轉換結果資料之正確性.
例：使能通道（0, 2, 3 和7）連續掃描的時序如下圖:
使能通道連續掃描時序圖
A/D 轉換可由軟體設定和外部STADC 管腳開啟.
ADC 時鐘發生器
最大取樣速率達600 KHz. ADC有三個時鐘源，可由兩位ADC_S(CLKSEL[3:2])選擇, ADC 時鐘頻率按如下公式進行8位預分頻:
ADC時鐘頻率= (ADC clock
source frequency) / (ADC_N+1);
8-bit ADC_N 在寄存器CLKDIV[23:16]中設置.
通常來說，軟體設置ADC_S 與ADC_N 獲得16 MHz 或稍低於16 MHz的頻率.
自校正
當晶片上電或者ADC的輸入類型在單端輸入與差分輸入之間轉換時，就需要做ADC自我校正以最小化轉換誤差。用戶置位CALEN位( ADCALR 寄存器) 使能自身校正功能.運作過程需要127 ADC 時鐘完成校正. 完成校正後內部硬體會自動置位元CAL_DONE位. 其時序圖如下:
* 類比輸入電壓: 0~Vref (Max to 5.0V)
* 12位解析度和10位精確度保證
* 多達8 路單端模擬輸入通道或4路差分輸入
* 最大ADC 時鐘頻率16 MHz
* 高達600KHz SPS 轉換速率
* 三種操作模式
„ 單一觸發模式: A/D轉換在指定通道完成一次
„ 單週期掃描模式:A/D轉換在指定通道完成一個週期,轉換順序從最小號通道到最大號通道
„ 連續掃描模式: A/D持續執行單週期掃描模式直到軟體停止A/D轉換
* A/D轉換開始條件
„ 軟體向ADST 位元寫1
„ 外部pin STADC
* 每通道轉換結果存儲在資料寄存器內，並帶有valid/overrun標誌
* 轉換結果可和指定的值相比較，當轉換值和比較寄存器中的設定值相等時，用戶可以選擇是否產生一個插斷要求
* 通道7 支援3輸入源：外部類比電壓, 內部帶隙(bandgap)基準電壓和內部溫度感測器輸出
* 支援自身校正功能以將轉換誤差最小化
